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L'ÉTS vous donne rendez-vous à sa journée portes ouvertes qui aura lieu sur son campus à l'automne et à l'hiver : Samedi 18 novembre 2023 Samedi 17 février 2024 Le dépôt de votre demande d'admission à un programme de baccalauréat ou au cheminement universitaire en technologie sera gratuit si vous étudiez ou détenez un diplôme collégial d'un établissement québécois.

Événements à venir
Du 18 mars 2026 à 09:30 au 19 mars 2026 à 16:30
18 mars 2026 à 12:00

Diffractomètre à rayons-X XRDynamic-500

Anton-Paar XRDynamic-500

Domaine(s)

Caractérisation des matériaux

Catégorie(s)

Diffractométrie des rayons X

Emplacement

LO1 – A-2100

Appareil innovant d'analyse de matériaux, offrant des solutions précises pour la recherche et le développement en technologie supérieure.
Modèle
Anton-Paar XRDynamic-500
Spécificités

X-ray generator: Up to 3 kW

Measurement radius: 360 or 400 mm

Maximum usable angular range: -95° to 162.5° 2θ

Minimum step size: 0.0001°

2θ linearity: ≤0.01°

Maximum angular speed: 15 °/sec

Maximum angular resolution: 0.021° (FWHM of 1st LaB₆ peak)

Description

Le XRDynamic 500 est un diffractomètre à rayons X automatisé, polyvalent, principalement pour poudres, conçu pour produire des données de diffraction de haute qualité avec une grande efficacité. Il permet d’étudier les structures cristallines, les phases, les microstructures, et même de faire de la diffraction non ambiante, de la SAXS (Small-Angle X-Ray Scattering), et de l’analyse PDF (Pair Distribution Function) — tout cela avec des changements d’optique et de géométrie automatisés, pour minimiser les erreurs et maximiser le débit.

Principe et objet

Modules disponibles : X-Y stage, EVAC Module, parallel beam X-Ray Optics

  • Analyser des poudres pour identifier les phases, quantifier, faire de la structure cristalline (profil, structure, contraintes, tailles de cristal, etc.),
  • Réaliser des études sous conditions non ambiantes (température, atmosphère, humidité),
  • Effectuer des expériences de diffusion aux petits angles (SAXS) pour les nanostructures ou les séparations fines ou porosité,
  • Faire de l’analyse de la fonction de distribution de paires (PDF) pour des matériaux amorphes ou mal cristallisés,
  • Traiter un nombre élevé d’échantillons sans intervention manuelle grâce à un échantillonneur automatique.

Avantages

  • Haute résolution et très bon rapport signal-sur-bruit : avec le chemin du faisceau sous vide + un grand rayon de goniomètre, on réduit fortement la diffusion parasite de l’air, ce qui améliore la qualité des données.
  • Automatisation poussée : alignements, changement des optiques, stages, etc., ce qui réduit les erreurs humaines, rend l’utilisation plus facile pour les utilisateurs moins expérimentés, et permet des mesures de lots d’échantillons
  • Polyvalence : réflexions, transmission, capillaires, divers accessoires non-ambiants, possibilité de faire PDF, SAXS, etc.
  • Rapidité : les changements de configuration se font rapidement, automatisés, ce qui permet un usage intensif, mesures variées sans gros temps d’arrêt.