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Événements à venir
Du 18 mars 2026 à 09:30 au 19 mars 2026 à 16:30
18 mars 2026 à 12:00

Microscope Lext Confocal OLS4100

Olympus LEXT OLS 4100

Domaine(s)

Caractérisation des matériaux

Catégorie(s)

Microscopes optiques & numériques

Emplacement

LO1 – A-2100

Système d'analyse de surface de haute précision avec écran pour visualiser des données complexes et optimiser des projets technologiques.
Modèle
Olympus LEXT OLS 4100
Spécificités

Grossissement (objectif): de 5× à 100X

Grossissement numérique: de 1 à 8X

Résolution horizontale (XY): ~120 nm

Résolution en hauteur (Z): ~10 nm

Modes d’imagerie: Optique, laser, 3D

Correction / enrichissements logiciels: Stitching, correction des images, contraste différentiel (DIC)

Description

Le Olympus LEXT OLS4100 est un microscope numérique à balayage laser confocal non-contact (CLSM) permettant d’observer et de mesurer des surfaces en 3D avec une résolution très élevée. Il est particulièrement utile pour étudier la topographie, la rugosité, les profils, ou les défauts superficiels d’un matériau sans le toucher, ce qui évite de l’endommager.

Principe et objet

Le microscope est conçu pour l’analyse de surface : études topographiques, rugosité, profil, inspection non-destructive.

CLSM = Confocal Laser Scanning Microscope : use un laser (ici 405 nm) pour balayer la surface point par point (ou ligne par ligne), permettant de reconstruire une image 3D très précise.

Non-contact : l’échantillon n’est pas touché (contrairement à un profilomètre à contact), ce qui est utile pour surfaces sensibles, fragiles, ou très texturées.

Avantages

  • Haute résolution tant en XY (~120 nm) qu’en Z (~10 nm), ce qui permet de détecter des détails de surface très fins.
  • Observation 3D précise : la capacité à reconstruire la topographie avec une grande finesse aide dans l’analyse des défauts, rugosité ou structures de surface complexes.
  • Non invasif / non contact : pas de risque d’endommager la surface fragile ni de déformer le matériau pendant la mesure.
  • Versatilité des grossissements : de vues larges à détails très fins, ce qui est utile pour inspecter des zones variées (ex. plan large pour voir la vue d’ensemble, puis zoom pour les défauts).
  • Fonctions logicielles riches : stitching, correction, analyse de profil ou rugosité ou particules intégrées, ce qui facilite l’exploitation des données et réduit la nécessité d’outils externes.